1、采用亞像素（sub-pixel）檢測(cè)懸滴的輪廓坐標(biāo)，這相當(dāng)于圖像分辨率的成倍提高，有利于進(jìn)一步提高計(jì)算的準(zhǔn)確、可靠性；

　　2、在擬合時(shí)考慮了幾乎所有的可能影響因素，也就是擬合模型考慮了目前所有計(jì)算方法中多的物理參數(shù)，以確保在通常的實(shí)驗(yàn)條件下獲得準(zhǔn)確的數(shù)值；

　　3、擬合中引入了robust statistics技術(shù)，以提高測(cè)量的抗干擾性和抗震動(dòng)性；

　　4、計(jì)算速度高：可以達(dá)到每秒十幾次的計(jì)算，適合對(duì)懸滴進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和控制；

　　5、適合分析測(cè)量體積范圍和形狀范圍非常廣的懸滴：從大可達(dá)懸滴體積Vm的約10%起就可以對(duì)懸滴進(jìn)行測(cè)量計(jì)算，同時(shí)適合分析測(cè)量幾乎所有可能形狀的懸滴；

　　6、可以測(cè)量的表面/界面張力范圍廣：從約0.0001 mN/m起，大值不受限制。

　　7、能夠處理分析無(wú)頂端（No-Apex）懸滴，消除了相機(jī)視野范圍對(duì)可以進(jìn)行測(cè)量懸滴尺寸的限制。

　　8、計(jì)算方法基于20世紀(jì)90年代開(kāi)始的研究工作，并在過(guò)去的20幾年一直處于演進(jìn)過(guò)程中。是目前世界市場(chǎng)上，發(fā)展持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、經(jīng)受過(guò)的實(shí)際測(cè)量磨練多、應(yīng)用較為廣泛的極少數(shù)幾種計(jì)算方法之一。
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